產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體專用檢測(cè)儀器設(shè)備RESmap 低電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品分類
電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導(dǎo)電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
更新時(shí)間：2025-06-27
產(chǎn)品型號(hào)：RESmap-1
瀏覽量：2836
掃一掃，關(guān)注公眾號(hào)
服務(wù)電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
服務(wù)熱線：
021-34685181
17621138977
相關(guān)文章